纳米粒度仪

产品简介
BeNano 180 纳米粒度仪是采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向 173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相曲线，结合数学方法就可以得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程就得到样品的粒度结果

产品型号：BeNano 180

更新时间：2025-05-29

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BeNano 180 纳米粒度仪是采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向 173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相曲线，结合数学方法就可以得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程就得到样品的粒度结果。

纳米粒度仪基本性能指标

粒径检测

原理	动态光散射技术
粒径范围	0.3 nm – 10 μm
样品	40 μL – 1 mL
检测角度	173
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

分子量测试

分子量范围

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流变测试

频率范围	0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s
测试能力	均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

粘度和折光率测试

粘度范围	0.01 cp – 100 cp
折光率范围	1.3-1.6

趋势测试

时间和温度

系统参数

温控范围	-15°C - 110°C
冷凝控制	干燥空气或者氮气
标准激光光源	50 mW 高性能固体激光器， 671 nm
相关器	快25 ns采样，多 4000通道，10¹¹动态线性范围
检测器	APD （高性能雪崩光电二极管）
光强控制	0.0001% - 100%，手动或者自动

软件

中文和英文

符合21CFR Part 11

检测参数

●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●分子量

●分布系数 PD.I

●扩散系数 D

●流体力学直径 DH

●颗粒间相互作用力因子 kD

●溶液粘度

检测技术

●动态光散射

●静态光散射

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